X-ray螢光-XRF 全新Hitachi XRF EA1400螢光元素儀，解決所有複雜成分分析!

2020年9月Hitachi日立發布最新款EA1400 XRF螢光元素分析儀，EA1400採用新型高感度高通量SDD矽飄移探測器，及精確度更優異的硬體相關配置技術。EA1400適用於高精確的RoHS大批量檢測，相較以往提供降低誤差率及提高了檢測的精準度；在貴金屬、爐渣、水泥或黃銅等高複雜成分分析應用， EA1400 XRF分析儀為大廠的非破壞性分析中發揮了關鍵性的精準測試。

若樣品具有一定的高度，測試目標物(或異物顆粒)位於樣品本體上緣，目標對象與XRF檯面具有一定的高度段差，亦或樣品待測位置為非平整表面，過往XRF會產生CCD攝像頭觀察位置與X射線照射位置不一致的情況，致使產生分析上的誤差。

 

EA1400為了解決非扁平樣品的分析問題，將X射線管筆直放置在樣品下方，以致能準確照射到樣品觀察屏幕上的目標測量點，對於非扁平樣品的測量極為有效。
 

為改變用於製作首飾的貴金屬合金(金，銀，鉑等)的硬度、可加工性、顏色，通常會在成品中添加銅(Cu)和鈀(Pd)等元素。為精確定位購買價格或採取適當的精煉手法，對於金，銀，鉑等的主成分元素與添加元素成分的精確分析至關重要。

以下提供EA1400相比傳統機型 EA1200VX 於分析上具有更高的靈敏度和更高的分辨率。

分析樣品為18K金(Au 75%，其他含有Ag,Cu)

上圖(a)是使用EA1400測量18K金的X射線能譜。(b)為在20 keV附近銀(Ag)的螢光X射線強度的X光訊號強度和感度，EA1400相較於以往EA1200VX 機型訊號輸出量(CPS)更為提高，更精確分析於此能量間帶的螢光X射線能譜。
 

在鋼鐵煉製過程中的產物爐渣，可作為水泥原料以及道路的素材等回收利用。而爐渣中也有可能含有的重金屬等有害物質，為了在不同用途下滿足品質分析、因此對成分分析精度要求通常非常嚴格。

以下為EA1400與以往EA1200VX機型相比、EA1400使用搭載有高靈敏度及高分辨率SDD探測器，來進行爐渣試料(運用JSS 902-1)的成分分析。
 

日本鋼鐵標準物質(JSS) 902-1 高爐爐渣樣品
 

JSS 902-1高爐爐渣樣品中鎂,鋁,矽的螢光X射線能譜
 

由於輕元素受到元素間的波峰干擾的影響較大，因此對於分辨率要求更高。EA1400相較於以往EA1200VX不僅具有更優異的高分辨率，同時也具有得更高感度的螢光X射線強度。
 

上圖為針對EA1400和EA1200VX測試中輕元素的強度比，可看出EA1400可以實現相較過往所有XRF更高精度的輕元素複雜物質分析，實現爐渣在輕元素中的成分分析。

嶄新的EA1400 XRF除了更精確的RoHS檢測，也能夠分析複雜的礦渣(矽、鈣、鋁和鎂)、貴金屬、聚合物、礦物、化學品或其他各式材料中的複雜應用分析。科邁斯科技做為日立高新在台灣最受信賴的代理商，我們確信EA1400能幫助客戶在材料檢驗上縮短測量的時間、簡化測量的流程並結果管理、同時減少操作失誤、提高檢測效率，滿足客戶在快速檢測上的需求。

 

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