實體講座 非破壞檢測技術中的精密檢測、失效分析與AI自動化：應用於電子零組件與各類材料中

非破壞檢測技術中的精密檢測、失效分析與AI自動化：應用於電子零組件與各類材料中
 

隨著AI的使用越來越多元且廣泛，在AI的普及下製造業會利用AI的來實現一些過去必須透過人員來判斷的問題，當AI取代人工判讀自動化的應用自然也需要去強化與搭配，科邁斯過去一向專注於實驗室方面的檢測系統，但我們也將在這波浪潮下進行產業升級，本次研討會除了原本的失效分析應用，更會加強設備與自動化以及自動判讀上的連結。

非破壞檢測一直以來都是分析手法中相當被重視的一環，主要是在不破壞樣品結構下可以對產品獲取一定的訊息量，從而可以利用這些訊息對產品做再進一步的分析與判斷，在失效分析中這部分想當重要，因為失效分析開始需要透過一些儀器來把疑問範圍縮小，所以非破壞檢測相當的重要，科邁斯提供了不同類型的檢測手法，有效的幫助大家找出問題所在。

此次會議也邀請了日本HIROX首席應用技術人員來台分享相關的光學檢測技術，HIROX是生產全世界第一台數位顯微鏡的廠商，HIROX顯微鏡也具備了3D的功能。本次的研討會將會以穿透式X-ray、螢光分析XRF、光學顯微鏡以及色彩管理為主題，從微觀到宏觀，從元素到結構，最後連外觀尺寸與顏色，都可以透過非破壞檢測科技來完整呈現。