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1.各大廠認可針對塑膠及電子元件中有害重金屬檢測之X射線螢光分析儀
2.採用高靈敏度矽半導體偵測，無須液態氮
3.配備CCD監視器
4.具備形狀、厚度、材質補正技術(Hitachi專利)
5.材料判定功能
6.分析線自動切換判別功能
7.超低檢測下限的(Cd：1.9ppm；Pb： 0.9ppm)
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| 項目 |
描述 |
| 測定元素 |
原子序編號 13 (Al) ~ 92 (U) |
| 樣品形態 |
固體，粉末，液體 |
| X光管 |
小型空冷式X射線管球(Rh靶) |
| 管電壓：15kV, 50kV |
| 管電流：1mA |
| 檢測器 |
Si半導體檢測器 (無需液態氮) |
| 準直器 |
1mm, 3mm, 5mm (自動切換) |
| 樣品觀察 |
彩色CCD攝像頭 |
| 濾波器 |
5種模式自動切換 (含OFF濾波器) |
| 樣品室 |
370(W) x 320(D) x 120(H)mm |
| X-ray Station |
筆記電腦或桌上型電腦 (OS; MS-windows WIN7) |
| 定性分析功能 |
能譜測定，自動辨別，KLM標記表示，圖譜比對，差異表示 |
| 定量分析功能 |
塊體基本參數法，塊體標準檢量線法 |
| 報告製作 |
MS-WORD，MS-EXCEL |
| 設置尺寸 |
1500(W) x 1000(D) mm (不含印表機) |
| 重量 |
約60kg |
| 使用電源 |
AC100 ~ 240V，±10%，單相三線 |
| 選購配件 |
- Film FP (薄膜FP軟體)
- Film CAL (薄膜標準曲線軟體)
- Spectrum Matching Software ( Material Discrimination)
- Hazardous Substance Measurement Software Ver.1
- Sample changer (自動取樣器，最多可放12樣品)
- Standard Reference Samples for various environmental regulations
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