Multi-Turn 飛行時間質譜儀 產品型號：JMS-MT3010 HRGA

■ 產品說明
在近年來研究領域對於現場原位分析微量的氣體成分的需求越來越高，JEOL推出JMS-MT3010HRGA (INFITOF)質譜儀，主打為實時氣體分析而設計的，其採用了新的Multi-Turn飛行時間離子光學元件的技術，讓儀器內包括真空泵的整台質譜儀跟一般桌上型電腦大小相近。而且其能獲得高的質量解析度,它可以用於研究未知化合物還可以檢測氫離子，能支援未來氫能、新能源發展和先進材料的研究等等。

該系統能夠檢測m / z 1-1000的離子質量範圍。在一個機型緊湊的系統，它是唯一能夠檢測氫離子 (H+) 並且可以分離質量相近的離子 (例如H 2 +和D +或N2 +和CO +) 的氣體分析質譜儀。


1. 高純度氣體分析。
2. 半導體、催化劑、材料等製程的氣體分析。
3. 廢氣的監測。
4. 石油裂解和煉油製程的氣體分析。
5. 氫能源的發展。

JMS-MT3010HRGA (INFITOF) 主要是以Multi-Turn的這個新技術，將以往需要大體積使離子有足夠飛行時間的長度，設計出圖上這種多獨特的多轉向離子光學系統，改變不同以往的V型軌道，不但可以使離子有足夠的飛行時間去達到監測的效果，並且使整體的離子飛行空間縮小到約莫20cm的立方體大小，而這種設計的飛行路徑長度是可以配合實驗加以調控的。

■ 特色說明

• 高的質量解析度(High Mass Resolving Power)

創新的Multi-Turn技術不只讓質譜儀的體積縮小，卻同時能保有高的解析度，即使對於低質量的N2+（28.0062）也可以達到30,000（FWHM）或更高的解析度。

使用傳統的小型質譜儀是難以將CO+（m/z 27.9949）和N2+（m/z 28.0062）或CO2+（m/z 43.9898）和N2O+（m/z 44.0011）這種相似分子量進行分離的。而新的INFITOF系統可以輕鬆分離這些氣體成分，並且可以量測獲得未知物的元素組成或精確測量已知化合物的質量。

• 能量測氫離子

在一般高解析度的飛行時間質譜儀(TOFMS)，它要偵測到H離子是很困難的，但在INFITOF的機型，如下圖可以偵測到H+(m/z 1)跟H++(m/z 2)的訊號，而且掃瞄的質量範圍可以大至m/z 1000。

• 氣體原位分析與高解析的監測

INFITOF尺寸和重量非常具有優勢（約40 kg），因此可以輕鬆移動和安裝質譜儀。對於難以運輸的樣品，INFITOF可以安裝在推車上方便移動，例如在通風櫃或手套箱中產生的氣體樣品，此時INFITOF就可以輕鬆連接實驗並能夠即時監測到氣體，讓整體氣體分析變得更加簡便。