氣相層析質譜儀 GC-MS 產品型號：JMS-Q1500 GC-MS

■ 產品說明
日本電子JEOL在四極杆的技術發展上更上層樓，使得新一代的GC-MS具有更出色的性能。JMS-Q1500可應用在廣泛的領域，如環境分析、藥物檢驗、食品分析、農藥分析、氣體分析、材料研發及塑化劑分析等。為了增加應用領域的範圍(固體進樣、特殊樣品及氣體進樣等)，除了傳統的GC進樣方式外可串聯多種進樣儀器。

■ 特色說明
1. 寬廣的動態範圍及強大的真空能力
JMS-Q1500GC之中的四極柱空間在同類型儀器中擁有最大的體積。採用大型雙曲線四極柱，能夠提高離子進入的通量及離子的使用率，可進行大量的化合物分析及擁有寬廣的動態掃瞄範圍。由於具有極佳的離子的傳輸效率，在進行微量分析時也能具有很高的靈敏度。
 

2. 高容量的渦輪真空幫浦(Turbo Molecular Pump)
抽氣速率高達400 L/sec，可在5分鐘內達到高真空環境，應用在高流速管柱(如packed column或mega bore column)依然能夠保持良好的真空度。

 

3. 高靈敏度及快速的資料獲取 (Improve detection sensitivity and data acquisition)
根據JEOL的引入式透鏡(Draw-in lens)及預過濾系統(pre-filter)，可將雜訊降到最低、增加靈敏度及延長四極柱的壽命。在Scan模式下，1 pg的OFN的靈敏度可以達到S/N≧ 1,000(為JEOL QMS系統中靈敏度最高的)，在SIM模式下，儀器偵測極限(Instrument detection limit, IDL)可達到10 fg或更低。更高性能的APU提高了資料獲取的效率，在Scan模式下採集速度可達到22,222 u/sec。

 

 

Injection (#)	RT.(min)	Area	CV%	IDL
1	5.57	3065
2	5.57	2902
3	5.57	2981
4	5.57	2955
5	5.57	3028
6	5.57	3024
7	5.57	2987
8	5.57	3053	1.8%	6.3fg

 

4. 100 fg的OFN在SIM模式下，進行8次重複性實驗所計算出的值(m/z 272)
同時監測多組SIM且保持高靈敏度 (Peak Dependent SIM, pd-SIM)新的”pd-SIM”功能能夠提高分析時的靈敏度，在任何情況下皆可輕鬆達到最佳SIM條件並進行實驗。每1組的SIM可以設定100個通道(最高可達300組)，以及每個通道的採集速度可根據需求設定5 ms或更短。

 

 

5. 簡易的維護步驟及更低的維護成本
JMS-Q1500採用更寬廣的一體式離子源，減少了拆卸的複雜度，不需任何工具就可拆卸，能夠以更輕鬆簡單的方式進行離子源的維護或清潔、更換分析管柱使得維護成本下降。

 

6. 簡易的分析軟體 (Analysis Software “Escrime”)
”Escrime”是一款全面性的分析軟體，可以輕鬆且有效的進行GC-MS資料的定性及定量功能。于定性時，所有的峰皆可以有效地進行分析，包含了峰清單(peak list)、資料庫搜尋及圖譜的比較等。定量部分可以進行自動峰面積積分、檢量線建制、濃度計算及對單一或多峰面積進行修正等定量分析結果的報告，也可根據客戶需求進行更改。

■ 選配配件/其他

光游離化離子源 (Photoionization, PI)	PI為軟性游離源，利用氘燈光源提供能量為10.3 eV的紫外光，將化合物離子化得到分子離子，結合傳統的EI及PI，可得到更完整的分子量及結構資訊，提高分析效率，對於未知物的鑒定是一大利器。

■ 串聯多種進樣系統

熱重質譜儀系統 (TG-MS)	TG/DTA是將樣品加熱並同時監測重量損失與能量變化的熱分析技術，為瞭解熱脫附的物質，將其與質譜儀串聯可對升溫過程中所產生的氣體進行定性分析，能夠一次瞭解材料在加溫過程中的變化，應用於材料分析及有機合成等。
熱裂解GC-MS系統 (Py-GC-MS)	將熱裂解儀(Pyrolyzer)與GC-MS結合的分析技術，可藉由熱裂解儀裂解有機化合物經由GC-MS進行分離及檢測，應用於材料分析、橡膠分析及塑化劑等。
頂空進樣GC-MS系統 (HS-GC-MS)	頂空進樣系統(Head Space System)為一種預處理儀器，用於分析固體和液體所產生的揮發性有機物(VOC)。日本電子JEOL所開發的HS除了有傳統回路(Loop)式進樣，還具有補集管(Trap)式進樣，能夠進行極低濃度的分析，如水中黴味的最低偵測極限可達1 ppt。應用於揮發性有機物檢測、食品、化妝品及異味分析等。
直接進樣系統 (Direct Insertion Probe, DIP/DEP)	JMS-Q1500GC系統還可選擇兩種探針以直接進樣方式分析，根據不同的樣品型態及需求去做選擇。
直接插入式探針 (Direct Insertion Probe, DIP)	將固體或液體樣品放入窄玻璃管中，再經由探針直接加熱樣品而直接離子化，應用于高沸點化合物的分析。
直接暴露式探針 (Direct Exposure Probe, DEP)	將液體樣品放置在探針的Pt金屬絲上，再經由探針施加電流直接將分子離子化，應用于高沸點及熱不穩定性化合物的分析。

 

品質掃描範圍	m/z 1.5-1022
離子源	Electron Ionization (EI) Photo Ionization (PI) Chemical ionization (CI)
品質分析器	High-precision hyperbolic quadrupole w/ Pre-filter (QMS)
偵測器	Secondary-electron multiplier w/ Conversion dynode
真空系統	Turbo molecular pump Rotary pump
真空進樣系統	Direct Insert probe (DIP) Direct Exposure Probe (DEP)
串聯式進樣系統	TG/DTA Pyrolyzer Head Space Sniff

 

■ 委測檢驗

	應用領域	樣品形態
GC-MS	電池氣體、逸散氣體、塑化劑、有機化合物定性及定量、添加劑	氣體 液體
TG-MS	原料或材料定性、即時逸散氣體監測	氣體 固體
Py-GC-MS	原料或材料、添加劑、高分子材料、塑化劑	氣體 固體