桌上型X射線螢光分析儀 產品型號:EA1200VX / SEA1200VX
#法規及規範 #金屬分析/PMI # 材料分析 #元素成分分析 #環境分析/EPA
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1.採用Vortex高解析度之矽半導體多陰極檢測器,為一般SEM/EDX專用之高階檢測器,不需要使用液態氮冷卻。
2.高計數率設計的Vortex檢測器,計數率可達150,000 cps,是一般檢測器的15~20倍,能接受更多的X螢光訊號,針對合金或塑膠高分子中主成分及微量元素分析的應用極佳。 -
項目 描述 測定元素 原子編號 11 (Na) ~ 83 (U) 樣品形態 固體,粉末,液體 X光管 小型空冷式X射線管球(Rh靶)
管電壓:15kV, 30kV, 40kV, 50kV
管電流:1mA檢測器 Si 半導體檢測器
(無需液態氮)准直器 1mm, 5mm自動切換 樣品觀察 彩色CCD攝像頭 濾波器 5種模式自動切換 樣品室 430(W)*320(D)*209(H)mm X-ray
Station筆記型電腦或桌上型電腦
(OS; MS-windows XP)印表機(選購) 噴墨印表機 定性分析功能 能譜測定,自動辨別,圖譜比對 定量分析功能 KLM 標示表示,,差異表示,塊體FP法,標準曲線法 統計處理功能 MS-EXCEL 報告製作 MS-WORD 設置尺寸 1080(W)*750(D)*810(H)mm
(不含印表機)重量 約90kg 使用電源 AC100~ 120V, 200 ~ 240V±10%, 10A 選購 有害物質判定軟體
能譜匹配軟體(材料判定)
薄膜標準曲線軟體
樣品進樣器
准直器: 3mmΦ
真空泵(輕元素分析用)
標準品 (金屬電鍍薄膜厚度標樣, RoHS標樣)