高對比奈米焦點CT系統 產品型號：Nanotom m
#非破壞性分析X-RAY #材料分析
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採用獨特溫控系統的GE DXR數位檢測器(3072 x 2400 畫素)，動態範圍>10000:1<br />
最新的開放式180kV/15W高功率nm焦點X射線管<br />
最小解析度可達200nm，穩定性高<br />
金剛石視窗，同樣圖像品質下檢測速度提高2倍<br />
採用的是花崗岩基座設備非常穩定，可達到高精度、高穩定度的機械系統<br />
最大檢測範圍可達直徑240mm x H 250mm<br />
最小體積解析度可達0.3um<br />
3D量測系統，包括恒溫樣品室和高精度檢測系統<br />
1小時以內即可生成檢測報告
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設備規格 內容說明 最大管電壓 180 kV 最大功率 15 W 細部檢測能力 高達200nm(0.2 μm) 最小焦物距 150mm 到600mm 最大3D圖元的解析度
(取決於物件的大小)< 300nm (0.3µm) 幾何放大倍率(3D) 1.5 倍到100 倍 最大目標尺寸(高 x 直徑) 250mmx 240mm/ 9.84" x 9.45" 最大目標重量 3 kg/ 6.6 lb 圖像鏈 7兆畫素平板數位檢測器陣列 操作 5軸的樣品方向移動操作(X、Y、Z、R、T) 2D X射線成像 不可以 3D CT掃描 可以 先進的表面提取 可以(選配) CAD 比較+ 尺寸測量 可以(選配) 系統尺寸 (1980 x 1600 x 900 mm), (78” x 63” x 35.4”) 系統重量 1900kg/ 4189 lb 輻射安全 - 全防輻射安全機櫃，依據德國ROV和美國性能標準21 CFR 1020.40 (機櫃X-Ray系統)。
- 輻射洩漏率：從機台壁的10cm處測量 <1.0µSv/h。
