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桌上型螢光分析儀 XRF 產品型號：EA1400

採用新一代的矽漂移探測器（SDD）並搭配真空系統，可以有效地降低大氣背景的干擾問題；X-ray及觀測鏡頭同軸設計可大幅提升測試精確性，進而提升各元素的檢測訊號，對於應用在表面不平整的樣品測試上有極佳的效果；同時，EA1400也是專業的元素分析儀，分析元素由Na~U都可以檢測，以應付各種高質量的測量需求。

#法規及規範　 #金屬分析/PMI　# 材料分析　 #元素成分分析　 #環境分析/EPA

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詳細說明規格說明產品應用

全新的矽漂移探測器（SDD）設計能提高分析鎘和鉛等RoHS物質的準確度和速度。新優化的x射線照射方法可提高分析不平坦和不規則表面的可重現性。此外，高性能探測器能提高計數率，增加探測痕量元素的精密度，並且實現測量較輕元素的卓越能力。為了確保最高生產率，將黃銅中鎘的篩查（通常是XRF RoHS篩查中最具挑戰性的一項）功能設計成比傳統型號速度更快，從而大幅提高通量。

該軟體的一項內置功能可直觀標記超出預設濃度限制的預定義元素。使用精密度控制軟體的EA1400一旦達到預定義參數將自動停止分析。可在預定義測量時間之前確定合格/失敗情況，由此可增加測量多件樣本的通量，從而節省時間且不會影響品質計畫。

除了RoHS篩查，EA1400也能夠辨別礦渣（矽、鈣、鋁和鎂）、聚合物、礦物、化學品和其他材料中的主要成分。

項目	描述
測定元素	原子序編號 11 (Na) ~ 92(U)
測試環境	一般大氣 (Al~U) 真空系統（Na~U）*選配
X-ray 照射方向	X射線垂直照射（樣品同軸觀察）
X光管	小型空冷式X射線管球（Rh靶）
檢測器	新款矽半導體檢測器（SDD）
准直器	1, 3, 5mm
濾波器	5種模式自動切換
樣品室	304(W)×304(D)×110(H)mm
重量	69Kg
電力需求	AC100~240V (50/60Hz)/190VA
自動樣品轉盤	可加裝12組樣品轉盤 *選配

▶ RoHS/WEEE
(1) 滿足歐盟RoHS指令，以及各國針對電子電機產品中有有害物質含量的快速檢測分析，例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。
(2) 針對目前IEC指令中之無鹵素含量要求標準，利用XRF可建立快速、非破壞的檢測方法，滿足廠商簡易的需求。

▶ 電子大廠重金屬規範
(1) Sony-GP(Green Partner) SS-00259有害物質認證
(2) Apple 069-0135禁用物質規範
(3) Samsung Eco-Partner認證
(4) 廣達、宏碁、HTC、華碩、台達、友達等國內大廠重金屬規範
(5) HP、Panasonic、molex、Toyota、Foxconn、3M等國際大廠重金屬規範

▶ 合金分析
(1) 金屬材料品質控管：合金中主成份的快速分析。
(2) 合金成份的鑒定：有效分辨材質相近合金種類，如：304/321
(3) 貴金屬的分析鑒定：貴金屬金、鈀、鉑、銀等含量分析
(4) 金屬回收與分類：依金屬成份含量做分類
(5) 回收汽車催化劑中，金、鉑、銠的成份分析

▶ 油品分析
(1) 燃料中的硫含量對環境的影響：XRF 為最有效檢測燃料中硫成份的工具(依據ASTM D4294)
(2) 監測潤滑油中重金屬的成分：精油油品中Fe, V, Cu, Cr, Ni, Pb 可以提早知道引擎中是否有不正常的金屬磨損(依據ASTM D6481)

▶ 鍍層厚度分析
(1) 分析電子部品電鍍層的厚度
(2) 各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
(3) 各鍍層的成分比例分析

▶ 空氣環境監測
在空氣過濾介質、灰塵抹布的含鉛方面符合NIOSH Method7702，OSHA Methods OSSAI，OSSI 。