樣品架-適用於板坯、晶圓、片材、紡織品和薄膜 產品型號：Sample Holder for Slabs, Wafers, Sheets, Textiles and Films
此樣品架用於測試相對剛性的高導熱板或片樣品（使用我們的板測量模組），例如金屬板、石墨板或層壓板以及半導體晶圓。在環境溫度低於400°C 時，此樣品架通常與我們的Kapton 絕緣Hot Disk® 感測器型號5501和8563一起使用。
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支架由兩個相同的、扁平的圓柱形容器組成，容器的壁端部有小凸塊。兩個相同的平板樣品件（感測器夾在中間）與扁平容器夾在一起，每側一個，凸塊抵住相應的樣品件。使用我們的固體樣品架可以輕鬆完成感測器固定和夾緊。在樣品兩側設置扁平容器的目的是確保測試過程中兩個板樣品件隔熱（在本例中為空氣）的先決條件。此樣品架可使用的最小板坯樣品直徑為 70 毫米。
此外，此樣品架還可用於測試厚度低至 300 µm 左右的隔熱紡織品或薄膜（例如矽膠薄膜）（使用我們的薄膜測量模組）。然後將兩個相同的薄膜樣品夾在感測器上，每邊一個，使用我們提供的專用板背景。後者由兩個圓盤狀金屬板組成，每個板的直徑為 80 毫米，厚度為 2 毫米。
所述樣品架及其隨附的背景板均由不銹鋼製成，可在高達 1000°C 的溫度下使用。 -
適用於板坯、晶圓、片材、紡織品和薄膜的樣品架
溫度範圍 Up to 1000°C 典型感測器型號 溫度<400°C Kapton 絕緣 Hot Disk® 感測器型號 5501 和 8563 溫度 400°C 至 1000°C 雲母絕緣 Hot Disk® 感測器型號 5082 最小樣品直徑 板坯 70 mm 薄膜 比感測器雙螺旋直徑大10毫米 材料 不銹鋼 尺寸
（高x直徑）板坯支架 16.3 mm x 68 mm (單件) 薄膜板背景 2 mm x 80 mm (單件) 重量 板坯支架 0.40 kg 薄膜板背景 0.16 kg
