-
基於X螢光的塗層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法，提供易於使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本製備，能夠分析元素週期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。 X-Strata 920提供多種配置，可分析單層和多層鍍層（包括合金層）。四種樣品台配置，分別是標準台、井深式、加寬式、程式控制式，可依照需求分析任何形狀的部件樣品。
- 開槽式樣品倉設計，可以測量大型平板樣品，如尺寸大於儀器 寬度的印製線路板或小型的連接器，接外掛程式樣品。所有樣品可以很方便地放置並定位到待測點
- 最大樣品尺寸：270 x 500 x 150mm
- 最小的准直器：0.01mm x 0.25mm(0.5 x10 mil)
- 可根據需求選擇檢測器-正比計數器(Ti鈦~-U鈾)或高解析度 (Al鋁 -U鈾)SDD
- 可以分析金屬膜厚及成分, 從原子序號22~至92的典型元素的電鍍層、化學鍍層
- 多層多元素校正符合IPC 4556, IPC 4552A
- Z 軸自動控制, Z 軸自動對焦系統
- 鈷二次濾光片，用於準確校正銅鎳之間的相互干擾，合適鎳層的精確測量
- 最大數量准直器：6個
- 金屬薄膜厚度0.03微米(30nm)到 30 um微米，根據不同鍍層元素和鍍層結構不同而不同
- Hitachi SmartLink FP 基本參數法
-
項目 描述 測量方向
(X射線照射方向)從上往下，即使樣品表面有一定的幅度或不平整等情況也可輕易對焦 外形尺寸 寬 x 深 x 高 [mm]： 約 407 x 770 x 400 mm 樣品台設計 開槽式樣品倉，可以測量大型平板樣品，如尺寸大於儀器 寬度的印製線路板或小型的連接器，接外掛程式樣品。所有樣品可以很方便地放置並定位到待測點。 Z 軸自動控制（Z 向行程：43mm）
樣品倉內部尺寸：236 x 430 x 160mm (寬 x 深 x 高)X射線源 W 靶射線管 高壓發生器 50 kV, 1.0 mA (50 W) 高壓發生器，高壓多檔可調 二次濾光片 鈷二次濾光片，用於準確校正銅鎳之間的相互干擾，合適鎳層的精確測量。 X射線接收器檢(探測器) 正比計數器(Ti鈦~-U鈾)或高解析度 (Al鋁 -U鈾) SDD 元素範圍 鈦-鈾，或鋁-鈾（SDD） 視頻系統 彩色 CCD，30 倍光學放大， 200%、300%和 400%數位放大。樣品分析區域
在使用者介面顯示，清晰、易用。Z 軸自動對焦系統 鐳射用於 Z 軸自動精確定位X 射線光管/檢測器與被測樣品到最佳測試距離。
「一鍵操作」將Z 軸測試頭移動到最佳位置，同時將樣品圖像定焦（顯示在螢幕上）。
自動而簡單的操作提高儀器測試的再現性，並將人為測量誤差降到最低。
注：最佳測試距離為 12.7mm，由 X 射線測試頭自動調節高度（Z 軸）。可測量的鍍層
元素範圍元素週期表中 22 號鈦元素到 92 號鈾元素 可測量的鍍層層數 最多可同時測量 4 層（不含基材） 可測鍍層厚度範圍 通常約 0.03 微米到 30 微米，根據不同鍍層元素和鍍層結構不同而不同。
相關產品
-
X射線螢光鍍層厚度測量儀 FT230
產品型號：FT230
-
金屬膜厚分析儀 XRF
產品型號：FT160
-
金屬膜厚分析儀 XRF
產品型號：FT110A
