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結合GC/EI及GC/軟性游離的自動化非特定目標物(non-target)分析軟體
- 通過反摺積(deconvolution)將複雜重疊的訊號折解出來，並綜合分析2種不同游離方法來識別圖譜中的未知化合物
- 群組分析方法，自動識別圖譜中結構類似物和異構體
- 兩個樣品之間的圖譜比較與差異分析
■ TICC峰檢測和反摺積(deconvolution)檢測
msFineAnalysis以簡單、快速的方式提供定性分析結果，綜合EI離游法和軟性游離法（FI、CI 或 PI）採集的數據來提供定性結果。軟體透過兩種分析過程，來區別重疊的兩種化合物
■ 透過準確質量來分離重疊的層析峰自動化判斷未知化合物經過上述分析後，可以透過碎片離子或分子離子進一步作群組分析，群組分析自動標示出異構物或有相似部分結構的化合物。我們經常需要針對兩個相似或不同的樣品作比較，msFineAnalysis提供了Volcano Plots分析功能，可以視覺化，直觀地說明兩個樣本之間的區別成分。msFineAnalysis保證快速數據分析、高效自動化操作，大幅提升了非特定目標物分析質量！
- 軟體中同時展示GC/EI及GC/Soft ionization結果
- 綜合5種分析方法，在簡單的一個表單中提供圖譜中每一個化合物定性結果
- 支援圖譜顏色識別
群體分析(Group Analysis)
群組分析，內建標記特徵離子列表包含了常見特定類別化合物（例如醇類、胺類等）的EI 碎片離子，還包括 525 種商業常用的聚合物的添加劑信息，對於商業用聚合物產品分析，是十分有利的工具。選定離子後，軟體自動提取圖譜中具有共同離子（分子離子/碎片離子）或中性丟失的分析結果，並以顏色標記。標記指定碎片離子或中性丟失，對於分析具有相似部分結構（例如同類物）的化合物是非常有效的方法，而分子離子可以分析異構體。兩個樣品比對分析(差異分析)
兩個樣品比較功能，提供火山圖(Volcano Plots)，其中 Y 軸表示 p 值(p value)的統計再現性，X軸表示 兩個樣品之間的強度。透過軟體可視覺化說明兩個樣本之間的區別成分。在確定是否存在差異後，得以進一步對所有化合物進行綜合分析。 在兩個樣品比中，一般對每個樣本為數據再現性測量次數，n=1、3、5。然而現實樣品中，我們時常碰到僅有少量的樣品可以分析，軟體即使在樣品數等於1的情況，也可以將強度進行比較。因此也可以運用在困難量測多次的樣品分析。自動定性分析：結合5種定性的偵測技術
1. NIST 資料庫搜尋
2. 分子離子搜尋
3. 分子離子精確質量分析
4. 同位素模式分析
5.EI碎片離子分析
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功能說明 - 自動峰檢測和自動創建質譜圖
- 手動峰檢測創建質譜圖
- 通過反摺積(deconvolution)(deconvolution)創建質譜
- 分析兩個樣品數據中的化合物
- 分析兩個質譜圖中分子離子
- 顯示 NIST資料庫的搜尋結果
- 顯示精確質量分析結果
- 顯示同位素分佈分析結果
- 顯示測量條件
- 2樣品進行差異分析
- 使用離子列表進行群組分析，包括525種商業常用之添合物添加劑的訊息
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msRepeatFinder 聚合物分析軟體
產品型號：msRepeatFinder
