- 儀器介紹 -
25.Dec.2013
X-ray螢光-XRF 金屬產業福音 - 掌上型XRF專用視窗保護設計
工業科技發展快速，越來越多金屬類回收商或機械生產加工產業，使用掌上型的X-ray螢光金屬分析儀，提升品管檢驗的穩定性，或應用於金屬廢料回收，即時現場測試判斷廢料殘餘價值，或是應用於工廠建地的鋼材進料的工安品質檢驗，而在原物料價格一路攀升的世代，進一步保障了原料供應商或金屬製造商用價格較低廉金屬代替品，取代價格較高的原物料，或偷工減料，製造出不符合國際規格或買家要求規範的金屬製品，掌上型XRF的快速PMI應用，即時檢測的快速要求，已成為各行各產業必需性的工具之一。
其中掌上型XRF的使用上長久以來對於金屬再制工業大廠，或是貴金屬、不銹鋼等廢料回收產業，最擔心的就是儀器槍頭口的Kapton薄膜易於刮傷破損，輕者對於有經驗的使用者，若薄膜破損，於第一時間發現更換就沒有問題; 倘若尖銳金屬突出物造成Kapton薄膜刮破受損，未被即時發現，則可能導致異物掉落於儀器內部，造成光管或檢測器電子板受損，更換費用通常是一筆額外開銷。
鑒此，美國原廠Olympus Innov-X 首先發佈掌上型XRF唯一使用視窗保護系統措施（Windows Guard），針對一般金屬材料、不銹鋼、貴金屬產業，採用了這種可簡單撕黏的厚式Kapton視窗膠材料（右圖），針對鈦(Ti22)原子序22以上的金屬元素，一樣可精確的快速有效分析，對於以往擔心材料不規則，或是具尖銳狀廢棄金屬材料使用者客戶來說實在是一大福音。
Olympus Innov-X Window Guard提供型號及對應模式：
其中掌上型XRF的使用上長久以來對於金屬再制工業大廠，或是貴金屬、不銹鋼等廢料回收產業，最擔心的就是儀器槍頭口的Kapton薄膜易於刮傷破損，輕者對於有經驗的使用者，若薄膜破損，於第一時間發現更換就沒有問題; 倘若尖銳金屬突出物造成Kapton薄膜刮破受損，未被即時發現，則可能導致異物掉落於儀器內部，造成光管或檢測器電子板受損，更換費用通常是一筆額外開銷。
鑒此，美國原廠Olympus Innov-X 首先發佈掌上型XRF唯一使用視窗保護系統措施（Windows Guard），針對一般金屬材料、不銹鋼、貴金屬產業，採用了這種可簡單撕黏的厚式Kapton視窗膠材料（右圖），針對鈦(Ti22)原子序22以上的金屬元素，一樣可精確的快速有效分析，對於以往擔心材料不規則，或是具尖銳狀廢棄金屬材料使用者客戶來說實在是一大福音。
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Olympus Innov-X Window Guard提供型號及對應模式：
| DELTA 使用型號 | 選擇應用模式 |
|---|---|
| Classic Plus | Alloy mode |
| Premium, Professional 2000 and 6000 | Alloy mode |
| Premium, Professional 4000 and 6500 | Alloy-Window Guard mode |
| 一般未使用前 | Window Guard使用後 |
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科邁斯科技與Olympus Innov-X自2013年12月開始，針對所有金屬產業客戶(DELTA 2000金屬模式機型) 提供Window Guard 服務，搭配視窗保護薄膜，可以讓現場操作者更安心地進行材料檢測，不必再擔心因為材料尖銳突出或不規則形狀，造成薄膜不慎受損，隨著工廠節奏越來越快速，許多進料檢驗作業上，紛紛講求高效率高安全性，儀器本身提供的保護措施也越變得極為重要，如何在瞬息萬變的環境中，達到掌上型XRF應有的便利性與儀器保護性能，是產品與購買使用者的雙贏目標。 若有任何技術問題或產品需求，歡迎與我聯絡!
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