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- 技術原理 -
22.Dec.2016

X-ray螢光-XRF 如何以XRF解決客訴危機?


 

任何產品隨著專利綁定到期或是破解,以往廠商面臨客戶客訴產品出問題,在沒有任何儀器證實情況下,往往只能自認理虧。若是出問題產品是自家生產的,那賠償理所當然,但若是非自家生產的,那這個虧,就真的虧大了。

 

某知名S廠牌生產的PCB膠片,被客訴某批生產的膠片有害物質超標,但根據公司內部品保部門的資料顯示,當初出貨的這批膠片在有害物質上應是確保無虞,沒有理由超標,但客戶一口認定出問題的膠片就是S廠牌生產。膠片若單純從外觀上,根本無法輕易分辨是否為自家廠牌生產,但好在S廠牌生產的無鹵素(Halogen Free)膠片,內含的成分(ingredient)與其他家廠牌略有不同,在無鹵素膠片上有添加非常微量的矽(Si)、磷(P)元素,這個know how最後也成了解除客訴危機最大的關鍵。

S廠牌以X射線螢光分析儀(Hitachi, EA1200VX),針對塑膠高分子中主成分及微量元素分析的應用特點,希望利用XRF分析儀能清楚辨別出問題膠片,是否真的為自家產品生產的。圖一為S廠牌生產的無鹵素膠片,經由XRF元素分析,無論從元素偵測的強度值,以及元素的能譜圖,都證實內含非常微量的矽(Si)、磷(P)元素。
 

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圖二為被客訴之膠片的元素分析顯示,經由XRF分析,無論在元素偵測的強度值及能譜圖元素檢測上,都顯示此膠片不含矽(Si)、磷(P)元素,兩相對照之下證實,此款出問題的膠片並不是出自S廠牌生產,S廠牌當然也就無須支付後續賠償的問題。
 

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往往我們都認為桌上型X射線螢光分析儀,皆是用以測試有害物質檢測(RoHS、WEEE、加州65提案、無鹵素……),但若瞭解X射線螢光分析儀的儀器性能,妥善使用其儀器附加功能,就能利用元素分析後的能譜圖(Energy spectrum)判定,免除一場巨額的產品訴訟。

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