- 技術應用 -
29.Jun.2009
X-ray影像 X-ray 相差成像技術
• 1996年澳洲CSIRO 團隊發表新世代穿透式3D X-ray在全球知名科技雜誌Natural (自然雜誌)的封面,實驗室用 X-ray CT斷層掃描走入新世代,使用範圍包括:電子零件、IC、半導體、LCD產業、光電零件、生物醫學試樣…需要高解析度3D影像的應用。
• XRT公司買下CSIRO 所發表的PCX所有技術及專利於2002年開始研究,並於2008開始量產對外銷售,2009年在台灣正式發表,PCX系列是目前全世界第一台商品化的Phase contrast Image 技術的穿透式X-ray並且同時使用兩種成像技術來做成像(相差成像技術及吸收成像技術),可以有效在輕元素組成的材料內找出明顯的裂縫,氣泡,等介面材質密度或吸收度接近的物質影像,此種技術對於元素原子序低於12的輕元素組成(C, H, 有機物如塑膠,電子零件,生物體等,效果特別顯著。
• PCX實際上像醫院內使用的高階電腦斷層掃描,只是這個設備不適用在人體上,而是使用於科技業,生物醫學產業,樣品較小的樣品。強調的是高解析度及成像清晰超過上世代使用吸收強度的吸收成像技術,PCX解析度優於是目前醫院內最高階的電腦斷層掃描CT的數百倍-數千倍,能做到0.0001mm 3D影像,對於傳統輕元素材質及元件的瑕疵無法使用X-ray做測試的部份,可以考慮使用PCX技術,可以明顯看到傳統吸收成像所看不到的訊息。
• 與一般3D 斷層掃瞄不同之處在於測試時樣品旋轉,並且在旋轉時由X-ray照下映像,多達1000-2000張影像,是一般常見100切,200切斷層掃描的10倍,影像清晰度前所未見。
Pioneering research in 1996 by Dr Steve Wilkins’ group at the CSIRO took phase contrast imaging out of the realm of specialized equipment and made it compatible with conventional and relatively low cost components
XRT Limited was setup to commercialese the results of these discoveries and now owns a suite of globally issued patents in this field.
“Phase Contrast imaging using polychromatic hard x-rays”
S.W. Wilkins, T.E. Gureyev, D. Gao, A. Pogany & A.W. Stevenson
NATURE Vol 384, 1996
Nature front cover feature story on phase contrast radiography
“Phase Contrast imaging using polychromatic hard x-rays”
S.W. Wilkins, T.E. Gureyev, D. Gao, A. Pogany & A.W. Stevenson
NATURE Vol 384, 1996
S.W. Wilkins, T.E. Gureyev, D. Gao, A. Pogany & A.W. Stevenson
NATURE Vol 384, 1996
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X-ray Phase Contrast
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