X-ray螢光-XRF PCX-1000 穿透式相角差對比成像X-ray (X-Ray phase contrast Imaging )

PCX-100 穿透式相角差對比成像X-ray(X-Ray phase contrast Imaging )

為何需要穿透式XRT一般光學方式只能看到物件表面, 對於物件內部是無法了解或看透的, 藉由X-ray可看到物件微小結構上的瑕疵, 或內部詳細結構及差異。

何謂 phase contrast Imaging?

        一般X-Ray可作為穿透內部機構的技術，常見的方式是利用物件不同部位的密度差異造成X-ray穿透在不同位置不同，而有影像深淺的差異，這種方式稱為吸收對比影像(Absorption Contrast Imaging)也稱為Shadowgraph陰影對比成像技術。
        但對於密度接近或差異不太大的不同部件或在塑膠材料中的孔洞, 兩種材料介面…X-Ray的穿透能力並無太大不同，造成影像解析造成困難。
        PCX是目前全世界第一台商業化搭載PCX技術的穿透式XRT。
        Phase contrast Imaging是利用X-Ray在材料內的折射率，反射及偏移，造成X-Ray的相角差路徑上的不同而得到的影像。

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PCX-100 是利用二種成像技術同時使用在此系統上，可在成像時使用相差對比影像技術讓物件或試樣內部完美呈現。

此系統能讓工程師、科學家更精準的探所未知的世界，此系統不僅可作2D的分析，更可作為3D分析的工具PCX技術讓大範圍高解析生成是可能的。

PCX-100 技術在對比和解析度及樣品的形狀上很有彈性尤其在樣品中的邊緣(edge)，孔洞(voids),不同材料界面(boundaries)，裂縫(Crack X high lights)提供獨特的X-Ray影像能力. 是一般傳統穿透式X-ray無法做到的能力.包括擷取，展開，可在兩種影像成像技術下得到最詳細的資訊。