質譜儀-Mass 高解析質譜數據之未知物自動鑑定軟體 - msFineAnalysis

在四極柱式質譜儀Single-Q GC-MS中進行未知物鑑定，經過電子游離法EI進行化合物的游離及斷裂，化合物的結構會因為高能量的電子束撞擊而斷裂，形成許多特徵碎片，透過特徵碎片進行資料庫NIST的鑑定，缺少軟性游離源的四極柱式質譜儀GC-MS鑑定時經常會有多種候選化合物的現象，高解析質譜儀GC-TOFMS (JMS-T200GC)具有多種游離源，硬性游離源EI能夠得到結構碎片，軟性游離源SI (FI/PI/CI)可以得到完整質量數，搭配GC-TOFMS超高解析度獲得精準質量數，是未知物鑑定的一個快速有效又準確的工具。

1. 根據EI質譜圖在資料庫中進行相似度搜尋，鑑定未知化合物
2. 使用軟性離子源數據進行分子離子分析及搜尋
3. 使用分子離子的精準質量過濾不同的分子式
4. 使用同位素指紋分析可以有效的過濾分子式
5. 候選分子離子可通過碎片分子式的成功率來過濾，可用於判斷結構。
    

圖 高解析質譜儀JMS-T200G進行未知化合物鑑定工作流程

使用高解析質譜儀進行未知物鑑定的步驟相當繁瑣耗時，然而日本電子JEOL開發了一套自動化分析軟體，多種化合物鑑定分析軟體msFineAnalysis，此軟體通過GC/EI及GC/CI, FI, PI游離源，以及5種定性方法進行自動分析，確保了快速的數據分析、有效率的操作以及更高質量的分析結果，而且全部自動化進行，msFineAnalysis是基於GC-MS定性分析的強大工具軟體。

圖 msFineAnalysis software

傳統的QMS只能夠透過低解析的GC/EI data來進行資料庫NIST鑑定，且無法自動化進行，在使用msFineAnalysis軟體搭配高解析質譜儀GC-TOFMS(JMS-T200GC)，此軟體通過GC/EI及GC/SI (CI, FI, PI)游離源，以及5種定性方法進行自動分析，確保了快速的數據分析、有效率的操作以及更高質量的分析結果！
 

科邁斯科技可以提供未知物鑑定完整的解決方案，專門進行定性的高解析GC-TOFMS，多種的離子化(GC/EI, GC/CI, FI, PI)註1 技術進行未知物精準質量分析，自動化分析軟體msFineAnalysis，簡單、快速、準確的進行未知物鑑定!

註1:　常見質譜離子源: EI 電子撞擊游離法(Electron-impact Ionization)，CI化學電離源(Chemical Ionization), FI 場游離法(Field Ionization), PI光游離法Photo ionization, EI是最普遍硬離子源, 另外三種CI, FI, PI都是軟離子源

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