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24.Jul.2013

X-ray影像 穿透式X-Ray檢測器及準直器硬體差異介紹【更新日期: 2023/12/19】

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【更新日期: 2023/12/19】

前篇文章(穿透式X-Ray光管硬體差異介紹)中,我們提到了穿透式X-Ray中光管的差異所帶來的影響,這篇我們來談談檢測器以及準直器的不同到底會造成那些差異。檢測器(Detector)是接收X-Ray的地方,不同的檢測器所產生出來的成像結果也有很大的影響,而準直器則是會影響到是否有背景雜訊的干擾。
 
X-Ray射線由X-Ray Tube產生後,照射到樣品上,依據樣品不同的X-Ray射線吸收特性,成像在檢測器上會出現不同的灰階程度,X-Ray射線會依據樣品的材料、密度、厚度….等等原因所影響,當穿過樣品的X-Ray越多時成像越偏淺色,穿過的越少成像的顏色越深;舉例來說,在IC封裝中最常用的是金線,隨著cost down的狀況,開始使用銅線來取代金線,當然銅線還是有一些問題存在,當我們在檢測銅線與金線時,可以看到因為銅線的吸收特性較低,所以呈現出來偏向淺色,在缺陷判斷時比較不同意清楚的看的到,這時候可以選擇比較高階的檢測器讓對比更明顯,這就是檢測器不同帶來的影響與差異,接下來我們就根據檢測器以及會影響成像的原因來進一步探討。
 
X-Ray射線由X-Ray Tube產生後
 
20130724-2
 
一般檢測器大致上分為兩種,影像增強檢測器(Image Intensifier Detector) 及平板檢測器(Flat Panel Detector),而另一個會影響成像的就是準直器(Collimator),後面就針對這兩部分進行說明。
 

一、 影像增強檢測器(Image Intensifier Detector)

影像增強是將X-ray轉換成可見光的影像,再利用光電陰極轉換成電子影像,光電子在陰極、聚焦電極及陽極共同形成的電子透鏡作用下聚焦、加速、衝擊,最後形成縮小&倒立並提高電子密度導致電子訊號加強。最後電子訊號再轉換成可見光型態,並透過CCD-Camera將影像擷取出來。一般影像增強檢測器多應用在比較早期的X-Ray系統,或是高功率的X-Ray上,因為鍛造、鑄造...等等金屬工件在檢測時主要的斷裂以及孔洞通常都比較大,不需要太高解析度的平板檢測器,而且早期都使用圖像強系統。
 
影像增強檢測器(Image Intensifier Detector)
 


二、 平板檢測器(Flat Panel Detector)

隨著電子產品的零件越做愈小過去的微米等級的設備已經不敷使用,漸漸改用奈米等級的X-Ray設備,並將檢測器由傳統的影像增強檢測器改為平板檢測器,因為平板檢測器帶來更高對比、更高解析度,對於微小的樣品分析的幫助非常大;尤其IC封裝廠更是因為微型IC的發展,過往的微米等級基本上已經無法支援到現在的微型IC的檢測,尤其3D IC以及模組化的堆疊IC更是需要搭配CT的電腦斷層進行分析,所以平板檢測器幾乎已經勢不可擋了。平板的原理比較簡單,利用直接能量轉換的方式,由於非晶硒是一種光電導材料,因此經X射線曝光後直接形成電子-空穴對,產生電信號,通過TFT(Thin Film Transistor array)檢測陣列,再經A/D轉換獲得數位化圖像,這種方式有效的提高了解析度、解析度並增強對比能力,而這種技術也將是未來工業X-Ray的趨勢。
平板檢測器(Flat Panel Detector)
 


三、 檢測器差異比較

再清楚的瞭解兩種檢測器的作用原理以及優點,我們可以根據這兩種檢測器之間的差異做一份比較分析的圖表
 

影像增強檢測器

平板檢測器

重量 較輕
放大倍率 較高 較低
價格 較低 較高
對比效果
檢測面積
影像完整性 影像邊框會出現弧度(校正後可排除) 影像完整
使用光管電壓 所需電壓可小一點 所需電壓會比較高
加強訊號
恒溫技術


四、 準直器      

準直器一般是在控制X-Ray射出的光束大小以及X-Ray射出的量,在穿透式X-Ray的設計中可以利用Collimator針對樣品的大小進行調整,控制X-Ray不要照射到其他的雜訊,這樣可以有效的降低一些其他物質造成的灰階差異,透過collimator的影響將導通孔旁邊缺陷照射出來。
 
準直器  

以上就是一般穿透式X-Ray中檢測器以及準直器帶來的影響,最主要是想讓大家對於穿透式X-Ray有更多的瞭解如果需要進一步分析或瞭解歡迎來電。

 

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