X-ray螢光-XRF 元素週期表查詢

元素週期查表

XRF原理
XRF光譜分析技術可用於確認物質裡的特定元素，同時將其量化。它可以根據X射線的發射波長（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。

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XRF光譜分析儀可測試範圍(藍色框內)：

手持式：

Alpha 6500攜帶式XRF：ROHS及Lead Paint (含鉛油漆)檢測儀器。
Alpha 4000攜帶式XRF：礦石分析儀可以用來對各種不同類型的礦石進行現場分析。通過現場測試的成熟的X射線管分析系統，無輻射性同位素，現場分析時能做出快速而全面的礦石類型研究，對樣品要求低，但是測試結果準確，能準確分析高濃度樣品，避免了驗證性的實驗室測試。
Alpha 2000攜帶式XRF：現在最先進的可?式合金分析系統，它使用極小的X射線管代替放射性同位素來解決更換資源和放射性擴散的問題。
Alpha LZX ：獨特的設計可以使微弱的X光快速進行重複的測試，這些X光是從一些比如Al,、Si 和Mg等輕元素中反射出來的。
Mobile X-50 ：整合偵測元件、樣品室、控制介面，相當於結合手持式XRF、桌上型XRF及筆記本電腦於一體的多弁鈶侅u具。
Alpha 8800攜帶式XRF：可同時適用無鹵與RoHS/WEEE分析，一機雙用途。

桌上型：

SEA1000AII ：各大廠認可針對塑料及電子元件中有害重金屬檢測之X射線螢光分析儀。
SEA1200VX ：高計數率設計的Vortex檢測器，計數率可達150,000 cps，是一般檢測器的15~20倍，能接受更多的Ｘ螢光訊號，針對合金或塑料高分子中主成分及微量元素分析的應用極佳。
SEA1100 ：針對土壤中重金屬管制分析，無須液態氮，省成本、更安全方便。
SEA2200A：採用目前較先進的矽鋰半導體偵測器，解析度可達150eV，提高干擾元素的分析應用，針測定性定量範圍可從碳(C⁶)到?U⁹²)。
SEA5100A：微區分析型XRF泛用機種，兼具元素分析與膜厚量測弁遄A配置全自動XYZ軸樣品自動移動平台，具備樣品元素成份分佈分析 (Mapping)檢測弁遄C
SFT9500：高感度的Vortex偵測器，加上使用了極小的X射線光束來進行繪圖測量，因此能簡單且迅速地測量樣品的電鍍濃度的元素分佈和特定元素的濃度。
SEA6000VX：十秒左右的時間完成對0.2mm x 0.2mm面積中Au/Ni/Cu（金/鎳/銅）等薄膜多鍍層的鍍層厚度測量。

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