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27.Mar.2013

X-ray螢光-XRF 掌上型XRF Delta系列Trending功能正式推出

文章-橫幅

Delta掌上型螢光分析儀在目前最新軟體版本2.5.17或之後更新的版本中增加了一個新的功能,那就是Trending(趨勢分析圖)。         

此功能可以幫助使用者在多個樣品測樣時,可以針對單一元素的分析準確度進行確認。簡單來說,一般進行樣品測試時,大多數的使用者可能會使用重複測試並算出平均值的功能來減少儀器測試的誤差。但是,如果我們想知道最近一個禮拜,甚至一個月內樣品當中某一元素其濃度的變化情況就需要使用Trending這項新功能了!
 
功能介紹

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1. 設定模組名稱:可依不同的應用來設定名稱   
2. 顯示結果過濾:可依使用者欲分析的模式、日期等過濾資料(右圖為Setup畫面)   
3. 顯示元素設定:左手邊為不顯示區,右手邊則為顯示   
4. 過濾模組名稱:使用者可自行設定過濾標題   
5. 下拉示選單分別為使用模式以及測試標籤,   
6. 時間設定:可設定欲分析的日期區間  
 
使用範例(此範例以土壤模式為主)
1. 選擇模式(土壤)   
2. 對待測物測試五次,並確認要分析的元素(以Mn、Ti為例)   
3. 于Trending選項中創造一個新的模組並命名   
4. 設定一個過濾模組:模式選擇土壤(soil),並選擇測試時的日期   
5. 回到模組設定,將Mn、Ti從Excluded移動到Included   
6. 上述設定完成後回到儀器Result看先前測試資料頁面,將可切換(如下圖)
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7. 下面左圖可看到兩個元素會使用不同顏色表示,當點選曲線圖上面的各點時,會顯示當筆資料的訊號強度、測試日期、測試筆數。若要看另一個元素,請點選儀器螢幕下方導航鍵,會出現Selected可供分析元素的切換。接著左上就會顯示目前選擇的元素。
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8. 使用趨勢分析圖也可以像一般能譜圖一樣拉選,將我們想看的範圍更精確一些。當趨勢模組被設定完成後,在設定的日期內測試樣品的資料都會同步被更新進去,可即時進行分析。
 
結論
Trending的功能不單單適合應用於環境檢驗業對土壤污染的追蹤,在電子業、金屬回收業等等,也可以依照不同機型所搭配的模式對於產品品質的控管、回收金屬時對合金品質控管,可以讓使用者對於待測樣品有更方便且全面性的進行長時間的產品品質追蹤。

 
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