- 儀器介紹 -
07.Jun.2021
X-ray螢光-XRF EA 1400的新型檢測器SDD跟傳統XRF檢測器SDD的巨大差異
日立Hitachi EA系列是全球RoHS檢測設備中最經典且普遍的型號，過去從SEA 1000A系列轉換到EA系列歷經EA 1000VX、EA1200VX，最新型EA系列已來到EA 1400。EA1400主要零件設計大幅更改，包括光管設計、檢測器SDD設計與樣品觀測系統。此文針對新型高光通量的檢測器silicon drift detector SDD加以說明，因為一樣SDD檢測器，檢測能力仍可差距8~10倍。
新型檢測器｜高靈敏度和高光通量測量
新型高光通量的檢測器silicon drift detector SDD在高能量區域中具有更高的量子效率，可實現Cd Kα、Ba Kα、Sb Kα能帶的高靈敏度、高光通量測量 ，並且在中能帶範圍對於Pb Lα、Br Lα、, As Lα，進步更為巨大。
EA 1400新型檢測器在能量範圍7Kev~30Kev 註1，量子效率在常用範圍明顯比其他SDD檢測器的XRF機型好30%~70%，對於靈敏度提高、檢測下限降低、測試時間縮短有明顯優勢。
新型檢測器｜更高的解析度和更高的光通量CPS
新型EA1400與之前的型號EA1200VX、EA1000VX或同類型SDD相比，EA1400憑藉其高解析度、高光通量SDD在檢測樣品主要成分附近的微量元素方面表現出色，可在金屬和其他材質質量控制等測試中實現卓越性能。
新型檢測器｜SDD檢測器搭配真空系統
EA1400通過使用新的檢測器搭配真空系統，輕元素的靈敏度大大提高，對於輕元素鈉(Na)、鎂(Mg)、鋁(Al)、矽(Si)、磷(P)、硫(S)、鈣(Ca)比同樣SDD檢測器的XRF機型靈敏度高8~10倍以上，有助於各種領域的輕元素分析。適合應用在高分子材料、陶瓷材料、金屬材料的研發需求與商業金屬、礦物、水泥的品質控管。
新型檢測器｜RoHS應用更快地篩測黃銅中的鎘(Cd)
金屬中的鎘(Cd)、銻(Sb)、鉛(Pb)，相對於塑膠材質中的RoHS控管元素鎘(Cd)、銻(Sb)、鉛(Pb)更難達到低檢測下限，未來黃銅的鉛排外條款即將到期，黃銅中的鎘測試更為困難。EA1400與之前的型號EA1000VX或同類型SDD XRF相比，測量黃銅和其他金屬中痕量鎘(Cd)的檢測下限及降低測試時間的效益增加2倍以上。
 |
 |
 |
▼ 300秒測量時黃銅中各元素的檢測下限(mg/kg)
| 元素 | Cd | Pb | Cr |
| 檢測下限 | 4 | 13 | 11 |
品質控制：檢測隱藏的異物分析
使用X射線照射系統，很難測量表面不平整或不規則以及附著在基材上的污染物。EA1400搭配優化的X射線照射和樣品觀察設計，能夠檢測和分析來自污染物的元素。對於輕元素鎂(Mg)、鋁(Al)、磷(P)、硫(S)、鉀(K)、鈣(Ca)、鈦(Ti)的定量分析更適合金屬、陶瓷、爐渣等研究領域。
*數值僅為範例，並非保證值。
使用X射線照射系統，很難測量表面不平整或不規則以及附著在基材上的污染物。EA1400搭配優化的X射線照射和樣品觀察設計，能夠檢測和分析來自污染物的元素。對於輕元素鎂(Mg)、鋁(Al)、磷(P)、硫(S)、鉀(K)、鈣(Ca)、鈦(Ti)的定量分析更適合金屬、陶瓷、爐渣等研究領域。
| 平均值(wt%) | SD(wt%) | RSD | |
| SiO2 | 34.89 | 0.01 | 0.04% |
| CaO | 45.07 | 0.02 | 0.03% |
| MgO | 3.49 | 0.03 | 0.9% |
| Al2O3 | 12.94 | 0.01 | 0.08% |
| S | 1.56 | 0.002 | 0.1% |
| K2O | 0.97 | 0.001 | 0.1% |
| TiO2 | 0.84 | 0.002 | 0.3% |
註1. XRF分析能量：鎘(Cd) Kα 23.108keV；鎘(Cd) Kβ 26.084keV；鉛(Pb) Lα 10.542 keV；鉛(Pb) Lβ 12.626keV；汞Hg Lα 9.980keV、汞(Hg) Lβ 11.853keV
若有任何問題歡迎您與我們聯絡。
☎️ +886-2-8990-1779
其他相關訊息
-
23.Sep.2024X-ray螢光-XRF Hitachi XRF-卓越的數據資料庫和指定條件搜尋功能
-
15.Apr.2024X-rite-分光光度計 X-rite自動化 線上型即時監控顏色、色差、光澤
-
27.Nov.2023X-ray螢光-XRF Evident最新貴金屬檢驗儀應用分享
