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07.Mar.2022

X-ray螢光-XRF Hitachi EA1400 XRF首創高精度表現,引領業界環保巔峰!

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帶您了解XRF螢光元素分析儀測試表現

隨科技日新月異,XRF螢光元素分析儀對於電子大廠的需求也越來越廣泛普及,日立Hitachi推成出新領先工藝的高階EA1400桌上型XRF,也針對各行各業的指標先進電子大廠,取得更準確且更穩定的測試水準表現。

一般傳統無論是桌上型XRF還是手持式XRF,針對國際電工委員會(IEC)標準,鑑於過往傳統XRF技術發展受限,國際普遍僅供列30%的參考誤差,然而針對現行終端大廠客戶和儀器的技術水準快速提升,越來越多客戶無法接納XRF儀器測試上的不穩定性,因此無論是國際上還是儀器原廠,都將標準品的精準度及重複表現性,當做儀器性能的優先指標。

以下提供Hitachi EA1400桌上型XRF測試具有最高規範的ISO17025一級標準品之再現性:
檢測及校準實驗室採用最高規範ISO/IEC 17025:2005一級實驗室Hitachi標準品
檢測及校準實驗室採用最高規範ISO/IEC 17025:2005一級實驗室Hitachi標準品
 
EA1400針對正式一級實驗室ISO17025標準品10次重複測試相對標準偏差(RSD)
EA1400針對Hitachi標準品10次重複測試相對標準偏差(RSD)
 

以下提供Hitachi EA1400測試顆粒狀的EC681k二級標準品:
EC681k 標準品成分表
EC681k 標準品
 
EA1400針對EC681k中10次重複測試相對標準偏差(RSD)
EA1400針對EC681k中10次重複測試相對標準偏差(RSD)
 

以下提供Hitachi EA1400測試顆粒狀的最新EC681M二級標準品:
最新EC681M 標準品成分表
最新EC681M 標準品成分表
 
EA1400針對最新EC681M中7次重複測試相對標準偏差(RSD)
EA1400針對最新EC681M中7次重複測試相對標準偏差(RSD)

以上數據是將各種國際標準品以EA1400進行重複測試以驗證設備再現性及穩定度,可確保儀器在進行大量樣品時的分析儀穩定性。避免因不同使用者進行的測試誤差。

「工欲善其事,必先利其器」高規格的Hitachi EA1400可讓您對於RoHS和各式元素精密分析或法規控管巧奪天工受益良多。

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