X-ray螢光-XRF Hitachi XRF-卓越的數據資料庫和指定條件搜尋功能

SPC 統計製程管制（Statistical Process Control）

統計制程是利用實際資料，運用統計的手法，用大數據的角度來幫助品管找出(歸納)產品的品質問題出在哪里，使用得當，而且還可以回溯和追蹤產品的品質軌跡，進而控管供應商入料在一定的正常水準。因此，可以透過監控並維持供應商產品在一定的品質程度以上的話，則可以達到降低風險的功效，同時監控並維持供應商產品的在一定的品質程度以上。

▲圖一 SPC統計分析方法說明
SPC統計製程管制意即利用統計分析的方法，對生產過程做即時的監控，使製程穩定和降低變異來改善製程能力

「若是未具備相應功能，則多數業者會發生因年代久遠造成的檔案遺失，或是常因供應商料種發生問題而需展開調查時搜尋過去檔案不易而使得單位權益受損。」
如下圖，業界常在測試『同一批號物料』時，無法得知同一供應商的進料品質和穩定性，有可能此物料逐月濃度遞增，有可能此物料每月進料濃度參差不齊，濃度變異太大，對於品質和後續加工程序，皆有一定的淺在風險。對於一級大廠客戶，優先擁有一套良好的追溯系統，不但可有效預防進料的變化或異物添加，更有助於防範各種問題。這樣的統計技術，目前已整合於新的Hitachi XRF系統中。

▲圖二各種分析經驗案例中所經常遇到的狀況

作為HITACHI新一代的XRF，率先業界併入資料庫優化搜尋系統，並可以利用同一系統，進行類似SPC統計製程管制（Statistical Process Control）品質即時追溯分析，隨時監控出貨(OQC)或進料(IQC) 的全面性管理。
HITACHI新型XRF已把分析階段和監控階段整合為一，在同一操控系統下，使用者或管理者可在每筆分析結果自動歸納，並利用歷史分佈點的情形，判斷料種的趨勢濃度是否有出現異常值(如下圖)，一旦發現失控立即做改善，並且可針對有問題測試結果，做各種條件組合篩選，進行歷史原因的搜尋和問題解決。