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- 儀器介紹 -2012.07.27X-ray螢光-XRF XRF與ICP-OES測試比較-以Ni-P鍍層中Pb含量為例
在檢測RoHS的法令中鉛的限制濃度是1000ppm，這種檢測方式在均質材料是沒有問題的，但當需要檢測到電鍍層中的鉛含量時，一般的XRF會因為鍍層以及基底的差異，會造成濃度被稀釋的狀況，而日本精工SEA系列的XRF可以做RoHS的檢測外還可以針對膜厚進行分析，透過檢量線法最多可以分析5層的差異，除了可以分辨鍍層厚度還可以量測出鍍層的元素含量，這些都是因為SEA1200VX搭載了SDD Vortex的檢測器，可以檢測微量的強度並有效地分析。
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- 儀器介紹 -2012.07.11熱分析-DMA DMS (DMA)動態黏彈性分析儀-最適樣品尺寸選擇
Dynamic Mechanical Spectrometer (動態熱機械分析儀)，一般常用DMS或DMA做為簡稱，其原理是使樣品處於程式控制的溫度下，通過對材料樣品施加一個已知振幅和頻率的振動，測量損耗因數( Tan d)隨溫度、時間、力量與頻率的函數關係，用以精確測定材料的儲存模量(E')、損耗模量(E”)、楊氏模量（E*）或剪切模量（G*）、粘彈性等機械行為，藉由所得數據的判斷可知材料隨溫度變化的強度、黏性、彈性、Tg 點、制震效果、材料混煉效果、各種相轉變點等。DMS被廣泛應用於熱塑性與熱固性塑膠、橡膠、塗料、金屬與合金、無機材料、複合材料等領域。
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- 儀器介紹 -2012.06.26X-ray影像 動態影像畫面更新率分析儀
隨著手機快速發展，手機各式功能多樣化，人們逐漸把重心轉往手機細膩度的精緻要求，對於手機、平板、E-book電子書等各種顯示平板效能，在各種應用程式或使用者介面操作下的畫面變化流暢度，已逐漸成為使用者體驗的重要選擇因素之一。
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- 儀器介紹 -2012.05.23X-ray螢光-XRF 來自NASA的專利技術，XRD/XRF 同步分析儀
誕生於火星研究計畫中的XRD設備，inXitu的XRD工程團隊研究開發出的BTX是世界上第一台桌上型的XRD。美國太空總署已正式核准授權inXitu將自己的技術商品化並銷售，BTX結合了XRF/XRD帶來不一樣的檢測方法，而其獨特的粉末處理系統在檢測時不需要調整光管以及Detector，在我們粉末處理系統中，不僅是樣本準備時間最小，且與實驗室等級的大型系統有同等波峰辨識的正確性。
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- 儀器介紹 -2012.05.23X-ray影像 科技新知-高畫質光學實體顯微鏡HD10
隨著科技進步，與兩岸人力工資提高，許多微小機械零件或像是微晶片、螺絲等品質控管精度日漸提高，而在產品篩檢效率與人力節省等相關技術也不斷在改良。
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- 儀器介紹 -2012.01.31X-ray影像 高畫質光學實體顯微檢測系統(HD10)
品質檢測時碰到物體太小或太細微無法檢視嗎?為了出一份漂亮的報告需要快速出圖標定物體的尺寸甚至加上註解嗎? ”高畫質光學實體顯微檢測系統” 提供了你最有效的輔助工具讓你快速的解決上述的問題
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- 儀器介紹 -2012.01.30X-ray影像 可程控機器手臂觸控面板測試儀
目前市面上最熱門的3C產品莫過於平板電腦及智慧型手機,這些產品使用大量的觸控功能使得讓產品的使用更人性化，未來加入戰場的Windows 8 更加入大量的觸控模式,如何讓觸控產品設計的更接近人性化的操控方式...
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- 儀器介紹 -2009.04.23X-ray螢光-XRF 美國便攜式Innov-X A 2000合金PMI的優勢
不銹鋼價格隨著物料價格漲跌巨幅的變動，加上非正規的2系列不銹鋼充斥市面，回收業者若沒有適當的分析工具，會蒙受巨大的經濟損失，現今掌上型Innov-X XRF分光儀，能在3-10秒內，作最快速的成分鑑定，提高回收業的效益及經濟利益，XRF在不銹鋼鑑定及分類篩選上，已是一個不可或缺的工具！
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- 儀器介紹 -2008.07.24X-ray螢光-XRF 松下(Panasonic)三星(Samsung)使用高精密度桌上型XRF鹵素(Halogen)之分析能力說明
『無鹵素產品』(Halogen Free product)已經是目前最新的環保趨勢，國際大廠包括松下(Panasonic)、三星(Samsung)、戴爾(Dell)、惠普(HP)、蘋果(Apple)、英特爾(Intel)、AMD等公司聲明將自2008年開始導入無鹵素材料。再者，明年即將開始實施的挪威PoHS法令中，已明確規範十八種必須排除的有害物質，第一類群組即為溴系耐燃劑，包括六環溴十二烷(HBCDD)與印刷電路板中最常用的四溴丙二酚(TBBPA)等。
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- 儀器介紹 -2008.05.16
X-ray螢光-XRF Alpha 4000在土壤、環境、灰渣、爐渣、廢棄物重金屬快速篩選工具
Innov-X Systems為第一家採用微型X光管的XRF設計者，搭配高感度、高解析度的檢測器，大幅地提升手持式XRF的性能表現，其可移動的便利特性，已廣泛運用於現場即時測試及篩選。已運用於台灣環保署土壤檢測(NIEA S322.60C)、美國土壤篩選(EPA 6200)、環境檢測(RCRA、NIOSH 7702)、爐渣、灰渣、底泥等重金屬快速分析領域。
