研討會 2014 國際環保要求趨勢分析暨XRF新產品技術研討會
親愛的客戶您好:
科邁斯2014年春季國際環保趨勢暨XRF新產品研討會即將開始,謹訂於2014年4月24日在 台灣大學應用力學研究所國際會議廳 舉行。
自去年初 RoHS 2.0 正式上路,RoHS新版指令2011/65/EU (簡稱RoHS (recast)或RoHS 2.0)於2013年1月2日起在歐盟成員國正式執行,中國、日本、韓國、台灣、印度及美國加州等各地皆隨其腳步跟進,而且對於各種電子產品也都包含在內;有鑑於此,本次研討會中也將載述RoHS2.0 /REACH /CPSIA /EN71…等等的對應之法規或檢測方式,並納入各大廠目前各種有害元素的要求範圍;同時,會中可以發現大廠的要求已不是單單針對於RoHS或無鹵素,並逐漸隨國際環保觀念,納入越來越多其他要求有害物質。
於此,科邁斯也將同步發表2014年最新型EA系列XRF有害物質元素分析儀,以滿足客戶多元化不同之應用測試需求,無論您是對儀器、最新法規亦或是特殊量測應用、儀器原理有興趣,都可從本次研討會中獲得寶貴資訊。本次2014春季研討會內容資訊,足以滿足台灣電子產業鏈環保要求需求。僅此一場,今年最夯產品、全新技術一次曝光,內容精采可期,歡迎大家共襄盛舉。
科邁斯科技2014年4月24日研討會,許多客戶反應想進一步了解有關RoHS之外的其他元素,對於定性或定量上是否有相對應檢測方式及技術;有鑑於此,我們於本次內容增加了如下相關最新議題:
(1)目前大廠新增有害物質需求及應對方式,包含Sb, Sn, As,Ni,Co,S,....
(2)高階大面積自動掃描式XRF,針對PCBA等大面積作全自動化的快速分析
(3)XRF膜厚分析及細小異物快速判定功能應用分享
(4)最新Laser元素分析新技術快報
針對RoHS以外的元素進行測試包含,目前已經在執行的一些RoHS之外的檢測,另外對於高階掃描的元素分析方式包含膜厚與異物分析都也一併包含在內。
此外,Laser的元素分析設備,是當前市場上最新的技術,測試速度僅1秒即可測試完畢且分析元素從H1~U92都可以檢測,包含許多相關產業想直接檢測到的C6含量,都可以在此技術中直接進行,敬摯邀請各位先進一同蒞臨參與!!
活動資訊:
活動時間:2014年4月24日 (四)
活動地點:台灣大學應用力學研究所國際會議廳
活動地址:台北市大安區羅斯福路四段一號
課程內容:2014國際環保要求趨勢分析暨XRF新產品技術研討會
報名方式:請點此處前往報名參加
報名費用:全程免費參加
注意事項:每公司以2人為限。
截止日期:即日起至2014/4/22或額滿為止
聯絡窗口:劉芝廷、黃瓊玉 小姐 (02)8990-1779 分機5201或 5101
2014 有害物質檢測新產品與技術說明
時間
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內容
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主講人
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13:30-13:50
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報到
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13:50-14:00
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國際環保法規訊息、要求及檢測技術經驗分享
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科邁斯科技
業務經理 朱文德 先生 |
14:00-14:40 |
2014國際法規趨勢及大廠管控經驗分享
◆ 2014國際環保法規說明( RoHS2.0 / WEEE, REACH, Halogen Free…)
◆ 最新大廠有害物質管控要求訊息及應對分析分享(以Apple, Samsung, ...為例)
◆ 最新大廠要求訊息及XRF應對 Sb, As, Sn…
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科邁斯科技
業務專員 陳韋安 先生 |
14:40-15:00
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Tea Time
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15:00-15:50
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有害物質檢測控管技術與新產品發表
◆ 2014 XRF新品發表
◆ 分析軟體、硬體功能大躍進
◆ 高階異物掃描與分析應用分享
(多零件主機板上有害物質大面積自動掃描) ◆ 最新Laser元素分析新技術快報 |
科邁斯科技
業務副理 徐孟濤 先生
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15:45-16:10
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Tea Time
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16:10-17:00
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產品檢驗方式與XRF多元化測試應用
◆ X-ray膜厚量測與定性功能比對說明
◆ 材料有害物質檢測注意要項
◆ XRF螢光元素分析干擾排除差異
◆ RoHS管控元素之外的定量分析方式
(淺談最新硫的管控) |
科邁斯科技
業務專員 任睎皓 先生
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17:00-17:10
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Q & A
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若有任何問題歡迎您與我們聯絡。
☎️ +886-2-8990-1779
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