- 活動 -
29.Jul.2015
研討會 2015 材料及零件品質控管暨失效分析技術研討會
親愛的客戶您好:
科邁斯2015材料及零件品質控管暨失效分析技術研討會即將開始，謹訂於2015年8月27日在台灣大學應用力學研究所國際會議廳舉行。
隨著產品技術快速提升，體積越做做小，電子產品已朝高精細多功能的技術性發展。泛從電子電器入料有害物質環保管控、到成品半成品成分添加分析技術解決、產品品質改善提升，都為不同精細分工的高端檢測技術分析需求。科邁斯鑒於長年在材料分析技術上的豐厚經驗，將電子產品常遇到的各式問題，同步結合實務面和應用技術層面；於本次研討會中，將分享產品非破壞式的隱性檢測，材料內部缺陷的非破壞式穿透式X-ray檢查，從傳統2D到高階CT斷層掃描 ; 以及物質成分分析或有害元素管控，透過XRF針對成分不確定性的解決方案，及近年電子大廠在有害物質的增加整理分享 ; 另外對於產品品質，藉由高解析質譜技術，著重品質改善技術分析，和材料問題的樣品處理與分析方法選擇，等多方位議題，率先與業界先進在本次研討會中分享，滿足客戶多元化不同的應用需求分析。
無論您是對儀器技術、材料問題處理及特殊研究分析有興趣者，都可從本次研討會中獲得寶貴資訊。本次2015秋季研討會內容資訊，足以滿足台灣電子產業鏈各種需求，將今年最實用新技術、問題解決方法同步說明曝光，內容精采可期，歡迎大家共襄盛舉。
【活動資訊】
活動時間：2015年8月27日 (四)
活動地點：台灣大學應用力學研究所國際會議廳
活動地址：臺北市大安區羅斯福路四段一號
課程內容：2015材料及零件品質控管暨失效分析技術研討會
報名方式：請點此處前往報名參加
報名費用：全程免費參加
注意事項：每公司以2人為限。
截止日期：即日起至2015/8/25或額滿為止
聯 絡 人：林巧真、劉芝廷小姐 (02)8990-1779 分機5201或 5101
【活動議程】
【活動資訊】
活動時間：2015年8月27日 (四)
活動地點：台灣大學應用力學研究所國際會議廳
活動地址：臺北市大安區羅斯福路四段一號
課程內容：2015材料及零件品質控管暨失效分析技術研討會
報名方式：請點此處前往報名參加
報名費用：全程免費參加
注意事項：每公司以2人為限。
截止日期：即日起至2015/8/25或額滿為止
聯 絡 人：林巧真、劉芝廷小姐 (02)8990-1779 分機5201或 5101
【活動議程】
| 時間 | 議程 | 講師 |
|---|---|---|
| 9:00-9:30 | 報到 | |
| 9:30-9:40 | 開場 | 科邁斯科技 業務經理 朱文德 先生 |
| 9:40-10:40 | 穿透式X-ray影像解決構件問題及零件缺陷 ■材料與結構分析方式 ■零組件內部孔洞裂縫等缺陷分析 ■On-line及off-line的可能性 ■3C相關產業之缺陷檢查方式 ■金屬件之加工缺陷檢查 ■3D X-ray CT之應用實例分享 |
科邁斯科技 業務副理 徐孟濤 先生 |
| 10:40-10:50 | Tea Time | |
| 10:50-11:50 | 大廠有害物質管控及XRF材料應用分析分享 ■2015國際環保法規及大廠新增有害物質 ■材料品質問題解決和成分分析及異物分析應用 ■XRF的技術分析和資料庫整合系統管理新方法 ■PCBA,鋰電池,電子零組件-全掃描式高階XRF Mapping分析 |
科邁斯科技 業務工程師 任睎皓 先生 |
| 11:50-13:20 | Lunch Time | |
| 13:20-14:20 | 熱分析光電材料檢測及失效分析應用分享 ■熱分析應用技術與原理 ■熱分析與樣品影像變化同步觀察 ■精密零組件失效-曲翹問題與耐熱問題 ■材料長時間使用的質變預測模擬 ■光電及電子產品散熱材料分析 |
科邁斯科技 總經理 林瑋翔 先生 |
| 14:20-14:30 | Tea Time | |
| 14:30-15:30 | 材料成分分析技術分享 ■高分子材料分子量分佈分析 ■高分材料化合物結構分析 ■產品添加劑分析 |
科邁斯科技 業務工程師 吳昆鴻 先生 |
| 15:30-15:50 | Tea Time | |
| 15:50-16:50 | 質譜技術應用在失效分析 ■樣品前處理與方法選擇 ■高分子與複合材失效檢測案例 ■鋰電池失效分析 |
科邁斯科技 應用工程師 牟珮慧 小姐 |
| 16:50-17:00 | Q&A | |
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